Detailinformationen

KaPatek ist ein Hersteller von optischen Schichtdicken Messsystemen basierend auf dem Meßprinzip der spektroskopischen Reflektometrie. Seit mehr als 25 Jahren beschäftigen wir uns mit optischen Dünnfilm Messystemen zur Schichtdickenmessung von optisch transparenten und semitransparenten Schichten und bieten unseren Kunden Komplettlösungen für die Qualitätskontrolle im F&E; Bereich und in der Produktion. Die spektroskopische Reflektometrie ist ein sehr schnelles, nichtzerstörendes und hoch präzises Dünnfilm Meßverfahren, geeignet für Ex- und Insitu Anwendungen. Mit unseren NanoCalc Reflektometer Dünnfilm Meßsystemen erfüllen wir all diese Kriterien und bieten unseren Kunden einfach zu bedienende, hochgenaue und preislich sehr günstige Meßtools für Metrologieanwendungen.